紅外一氧化碳分析儀在測量過程中容易受到哪些干擾
更新日期：2022-10-08 瀏覽次數(shù)：2846
紅外一氧化碳分析儀是利用紅外光譜分析一氧化碳氣體的方法。它是根據(jù)被分析組分濃度不同而吸收的輻射能不同而產(chǎn)生的輻射能使檢測器內(nèi)的溫度不同，動片薄膜兩側(cè)的壓力也不同，從而產(chǎn)生電容式檢測器的電信號。該方法可以間接地測定被分析組分的濃度。紅外一氧化碳分析儀在測量過程中會遇到不同的環(huán)境而產(chǎn)生誤差。
1、光路干擾：
一臺紅外氣體分析儀在預(yù)熱后通入氮氣時，由于切光片的相位不平衡和光路不平衡所致，所以只要調(diào)整相位調(diào)節(jié)鈕使輸出達到小值，再調(diào)整光路平衡鈕使輸出zui變小。然后用零點氣和程氣反復(fù)校準儀表的零點和范圍。
2、水分干擾：
如果零點氣體中有水分，通過紅外氣體分析儀進行校準，就會產(chǎn)生負誤差，近紅外區(qū)域，水具有連續(xù)的特征吸收光譜，若零點氣體中含有水分，則會使儀器零位產(chǎn)生負偏移，校準后儀器的示值必然低于實際值，從而產(chǎn)生負誤差。
3、干擾溫度變化：
紅外氣體分析儀需要在恒溫下進行檢測。環(huán)境溫度的變化直接影響到紅外光源的穩(wěn)定性、紅外輻射強度、氣室內(nèi)連續(xù)流動的氣體密度，進而影響檢測器的正常工作。當溫度超過正常值時，檢測器輸出阻抗會下降，從而使檢測器無法正常工作，甚至損壞檢測器。紅外分析儀一般都有溫度控制和超溫保護電路，即使這樣，某些儀器特別是微量分析儀也能觀察到環(huán)境溫度的變化，特別是夏季高溫環(huán)境下的溫度變化。這種情況下，需要改變環(huán)境溫度，設(shè)置空調(diào)是解決問題的方法之一。
4、大氣壓波動干擾：
大氣壓力在同一天內(nèi)甚至在同一地區(qū)也會發(fā)生變化。若天氣突變，其變化幅度較大。大氣壓力的變化直接影響到氣體放空速度。在測量氣室后直接放空的氣體樣品，由于大氣壓力的變化，使氣室內(nèi)的氣體密度發(fā)生變化，從而產(chǎn)生附加誤差。
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